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| 事件 |
平成
23年
(行ケ)
10260号
審決取消請求事件
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| 裁判所のデータが存在しません。 | |
| 裁判所 | 知的財産高等裁判所 |
| 判決言渡日 | 2012/05/28 |
| 権利種別 | 特許権 |
| 訴訟類型 | 行政訴訟 |
| 判例全文 | |
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判例全文
平成２４年５月２８日判決言渡 平成２３年(行ケ)第１０２６０号 審決取消請求事件 口頭弁論終結日 平成２４年４月２４日 判 決 原 告 ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション 訴訟代理人弁理士 渡 邊 隆 村 山 靖 彦 木 内 敬 二 野 村 進 被 告 特 許 庁 長 官 指 定 代 理 人 岡 田 孝 博 田 部 元 史 小 野 寺 麻 美 子 田 村 正 明 主 文 原告の請求を棄却する。 訴訟費用は原告の負担とする。 この判決に対する上告及び上告受理申立てのための付加期間を３０日と定める。 事 実 及 び 理 由 第１ 原告の求めた裁判 特許庁が不服２０１０−８１５４号事件について平成２３年３月２８日にした審 決を取り消す。 第２ 事案の概要 本件は，拒絶審決の取消訴訟であり，争点は，本願発明の容易想到性の有無であ る。 １ 特許庁における手続の経緯 原告は，発明の名称を「スペクトル帯域の並列検出による測距並びに低コヒーレ ンス干渉法（ＬＣＩ）及び光学コヒーレンス断層撮影法（ＯＣＴ）信号の雑音低減 のための装置及び方法」とする発明について，平成１５年１月２４日を国際出願日 とする特許出願（特願２００３−５６２６１７，パリ条約による優先権主張日 平 成１４年１月２４日，平成１４年４月３０日，米国，甲５）をし，平成２１年６月 ９日付けで本件手続補正書（甲６）を提出したが，平成２１年１２月１１日付けで 拒絶査定を受け，これに対し，平成２２年４月１６日付けで，不服の審判（不服２ ０１０−８１５４号）を請求した。特許庁は，平成２３年３月２８日，「本件審判 の請求は，成り立たない。」との審決をし，その謄本は，同年４月１２日，原告に 送達された。 ２ 本願発明の要旨 本件手続補正書（甲６）の特許請求の範囲の請求項１に記載された本願発明は以 下のとおりである。 「光学的画像形成のための装置であって， サンプルからの少なくとも１つの第１電磁気放射及び非反射性参照体からの少な くとも１つの第２電磁気放射を受信する装置と， 前記第１電磁気放射，前記第２電磁気放射，並びに前記第１及び第２電磁気放射 の組み合わせの少なくとも１つのスペクトラムを周波数成分に分離する少なくとも １つのスペクトル分離ユニットと， 複数の検出器を含む少なくとも１つの検出構成であって，各検出器が，前記周波 数成分の少なくとも１つの少なくとも一部を検出可能な前記検出構成と，を含み， ａ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する，及び ｂ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する， の内少なくとも１つである装置。」 ３ 審決の理由の要点 (1) 審決は，「本願発明は，引用発明および周知技術に基づいて当業者が容易 に発明をすることができたものであるから，特許法29条2項の規定により特許を 受けることができない。」と判断した。 (2) 上記判断に際し，審決が認定した引用例（特開２００１−１７４４０４号 公報，甲１）記載の引用発明の内容，本願発明と引用発明との一致点及び相違点， 周知例１（特開２００１−２６４２４６号公報，甲２），周知例２（特開平１−１ ４５５４５号公報，甲３）及び周知例３（国際公開第００／１６０３４号，甲４） の各記載事項，並びに，相違点についての判断は，以下のとおりである。（下線は 審決による。） ア 引用発明の内容 生体の内部断層像を得るための光断層像計測装置１３であって， 参照側集光レンズ６の光路上に設けられた参照光反射鏡１４と， 前記参照光反射鏡１４の反射面の裏面に設けられた遅延素子１５であって，前記 参照光反射鏡１４を変位させることにより参照光ＥＲ（ｔ）をその伝搬時間および 位相を変化させて反射させるための前記遅延素子１５と， 半透過板５であって，前記参照光反射鏡１４によって反射された参照光ＥＲ（ｔ） と，被計測物９の計測部位に照射されて反射された信号光ＥＢＳ（ｔ）とが前記半透 過板５の位置で干渉されるようになっている前記半透過板５と， 前記干渉光ＥＲ（ｔ）＋ＥＢＳ（ｔ）を波長毎に分解するための波長分散手段とし ての回折格子１６と， 前記回折格子１６により分光された干渉光ＥＲ（ｔ）＋ＥＢＳ（ｔ）の波長スペク トルのデータを光の強度として光電流に変換して検出するためのリニアイメージセ ンサ１７であって，波長分散された前記干渉光ＥＲ（ｔ）＋ＥＢＳ（ｔ）の検出素子 である複数個のリニアイメージセンサ素子が整列配置されている前記リニアイメー ジセンサ１７と， 前記リニアイメージセンサ１７が検出した光電流に基づいて前記被計測物９の反 射率を演算するための反射率演算部１９と， 前記反射率演算部１９に接続され，演算された反射率分布を画像情報として処理 するための画像処理部２０であって，処理した画像情報をモニタ上に前記被計測物 ９の断層像として画像表示させるようになっている前記画像処理部２０と， を備えた光断層像計測装置１３。」 イ 本願発明と引用発明との対比 (ｱ) 一致点 「光学的画像形成のための装置であって， サンプルからの少なくとも１つの第１電磁気放射及び参照体からの少なくとも１ つの第２電磁気放射を受信する装置と， 前記第１電磁気放射，前記第２電磁気放射，並びに前記第１及び第２電磁気放射 の組み合わせの少なくとも１つのスペクトラムを周波数成分に分離する少なくとも １つのスペクトル分離ユニットと， 複数の検出器を含む少なくとも１つの検出構成であって，各検出器が，前記周波 数成分の少なくとも１つの少なくとも一部を検出可能な前記検出構成と，を含み， ａ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する，及び ｂ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する， の内少なくとも１つである装置。」の点。 (ｲ) 相違点 第２電磁気放射が，本願発明では，「非反射性参照体からの少なくとも１つの第 ２電磁気放射」であるのに対し，引用発明では，前記参照光反射鏡１４によって反 射された参照光ＥＲ（ｔ）である点。 ウ 周知例１の記載事項 (ｱ) 摘記事項（２−ア） 「【特許請求の範囲】 【請求項１】 被検体に低コヒーレンス光を照射し，前記被検体において散乱した光 の情報から前記被検体の断層像を構築する光イメージング装置において， 前記低コヒーレンス光を被検体に照射し，前記被検体よりの反射光を受光する光照 射受光手段と， 前記光照射受光手段と接続し，前記被検体から戻ってきた前記低コヒーレンス光と 基準光とを干渉させるとともに，干渉位置を光軸に対し軸方向に走査するため，そ の走査範囲に対応した伝搬時間を変化させる伝搬時間変化手段と， 干渉光強度を干渉信号として検出する光検出器とを有し， 前記光照射受光手段がマッハツエンダー干渉系の光路の片側に，前記伝搬時間変化 手段が前記マッハツエンダー干渉系のもう一方の光路に設けられ， 前記伝搬時間変化手段が透過光学素子による光走査を用いて伝播時間を変化させる ことを特徴とする光イメージング装置。」 (ｲ) 摘記事項（２−イ） 「【発明の詳細な説明】 【０００１】 【発明の属する技術分野】本発明は，被検体に低干渉性光を照射し，被検体におい て散乱した光の情報から被検体の断層像を構築する光イメージング装置に関する。」 (ｳ) 摘記事項（２−ウ） 「【０００２】 【従来の技術】・・・ 【０００３】上記特表平６−５１１３１２号では，生体組織の特定の深さから散乱 ・反射光を検出するため，リファレンスミラーを進退することにより得ている。・ ・・さらに，生体組織内部の断層画像を構築するため，生体組織に照射する光ビー ムを走査し，前記リファレンスミラーの進退とを同期させることで断層像を構築し ている。 ・・・ 【０００６】しかし，マイケルソン干渉系を用いた場合，・・・検出器に戻る光量 に対し，信号が圧倒的に小さくなり，ＳＮ比を向上させることが困難である。また， 生体からの微弱な反射光のうち７５％を捨てていることになり，これもＳＮ比を減 衰する原因となる。 ・・・ 【００１０】さらに，反射型の高速デイレイラインでは，可動ミラー以外のファイ バ端や光学素子表面の反射も戻り光となるため，得たい信号光以外のノイズ光が発 生し，ＳＮ比を劣化させる原因となる。」 (ｴ) 摘記事項（２−エ） 「【００１１】本発明は，上記事情に鑑みてなされたものであり，高ＳＮで高速 なリファレンス走査手段を有すると共に，干渉系を安価に構成することのできる光 イメージング装置を提供することを目的としている。」 (ｵ) 摘記事項（２−オ） 「【０１４９】第９の実施の形態：図３０及び図３１は本発明の第９の実施の形 態に係わり，図３０は透過型ディレイラインの構成を示す図，図３１は図３０の光 学ブロックを４枚張り合わせた合成ブロックを示す図である。 【０１５０】第９の実施の形態は，第１の実施の形態とほとんど同じであるので， 異なる点のみ説明し，同一の構成には同じ符号をつけ説明は省略する。 【０１５１】（構成・作用）透過型ディレイライン９が第１の実施の形態と異なり， 本実施の形態の透過型ディレイライン９では，図３０に示すように，入射ＳＭＦ８ から出射した光は，コリメータレンズ２９により入射ビーム１９０として，階段状 ブロック１９６に入射する。階段状ブロックは，光学ガラスまたは光学プラスチッ クなどの光透過性の材質でできており，中心１９７に上下対称に，段差Δｄ１９８ を持つ多数の段が設けられている。それぞれの段は底面２５９に対して平行に研磨 されている。階段状ブロック１９６を透過した光２６０は，コリメータレンズ３６ により出射ＳＭＦ１０に導光される。階段状ブロック１９６は入射ビーム１９０に 対して平行に１１９９離れた軸２００を中心に回転する。回転により入射ビーム１ ９０は階段状ブロックの各段１９８を一段づつ移動しながら透過する。階段状ブロ ックの屈折率をｎ，周囲が空気であるとすると，一段移動するごとに （ｎ−１）Δｄ ごとに，入射ＳＭＦ８から出射ＳＭＦ１０までの光路長が変化する。階段状ブロッ ク１９６を一回転するごとに光路長が短→長→短→長と変化し，深さ方向に４回（２ 往復）走査されることになる。」 (ｶ) 摘記事項（２−カ） 図１には，基準光すなわち参照光の伝送路に透過型ディレイライン９が設置され ている様子が描かれている。 エ 周知例２の記載事項 (ｱ) 摘記事項（３−ア） 「［産業上の利用分野］ 本発明は，被測定物からの反射光あるいは後方散乱光をヘテロダイン法により検 出し，被試験物の特性を測定する反射試験方法および装置に関するものである。」 （２頁右上欄２〜６行） (ｲ) 摘記事項（３−イ） 「光遅延回路９は，第２図〜第４図に示すように各種の方法で実現できる。すな わち，第２図においてはプリズム１０を，第３図においてはハーフミラ−１１と対 向するミラー１２を，また第４図においては光ファイバ１３，レンズ１４およびレ ンズ１５，光ファイバ１６からなる平行ビーム系におけるコリメート用レンズ１５ と光ファイバ１６を，それぞれ各図における破線の位置（Ｚ＝０）から実線の位置 （Ｚ＝Ｚ０）まで動かし，光路長を変化させることにより実現できる。」（３頁右 下欄１５行〜４頁左上欄４行） (ｳ) 摘記事項（３−ウ） 第３図には，ミラー１２を移動させることで光路長を変化させる光遅延回路，す なわち，反射性の遅延回路が記載されている。 (ｴ) 摘記事項（３−エ） 第４図には，コリメート用レンズ１５（当審注：第４図中では，コリメート用レ ンズの図番は１４となっているが，上記摘記事項（３−イ）の記載からみて，当該 図番「１４」は，「１５」の誤記であることが明らかである。）および光ファイバ １６（当審注：第４図中では，光ファイバの図番は１５となっているが，上記摘記 事項（３−イ）の記載からみて，当該図番「１５」は，「１６」の誤記であること が明らかである。）を移動させることで光路長を変化させる光遅延回路，すなわち， 非反射性の遅延回路が記載されている。 オ 周知例３の記載事項 (ｱ) 摘記事項（４−ア） 「The interferometer 130 illustrated in FIG.7 is similar to that illustrated in FIG.6 , except that the expense of one of the optical circulators is avoided by use of a transmissive delay element 132 rather than a reflective reference arm delay.」（１５頁下から５行〜下から３行）， (ｲ) 上記仮訳（対応日本公報である特表２００３−５２４７５８号公報の 段落【００３５】，甲４） 「図７に示す干渉計１３０は，一方の光サーキュレータのコストが，反射性基準 アーム遅延ではなく伝達遅延素子１３２の使用によって回避される点以外は，図６ に示すものに類似する。」 カ 相違点についての判断 引用例の摘記事項（１−ウ）における「【００２３】この光断層像計測装置１３ は，前記可変遅延装置７の代わりに，参照側集光レンズ６の光路上に参照光反射鏡 １４を有しており，この参照光反射鏡１４の反射面の裏面には，前記参照光反射鏡 １４を変位させることにより参照光ＥＲ（ｔ）をその伝搬時間および位相を変化さ せて反射させるための，例えば，ピエゾ素子（ＰＺＴ）等の遅延素子１５が配設さ れている。・・・」の記載からみて，引用発明では，参照光反射鏡１４および遅延 素子１５からなる可変遅延装置を用いているといえる。 ところで，可変遅延装置の構成として，非反射性の遅延装置が，例えば，周知例 １（摘記事項（２−ア），（２−オ）および（２−カ）），周知例２（摘記事項（３ −イ）および（３−エ）），および，周知例３（摘記事項（４−ア））に記載され ているように，本件優先日前に周知である。 そして，（ア）引用発明も上記周知技術も，被測定物からの反射光と参照光との 干渉により被測定物を分析する装置である点において共通していること，（イ）可 変遅延は，各種の手法で実現でき，どのような手法を採用するかは，当業者が適宜 選択し得る事項であるといえること（摘記事項（３−イ）），および，（ウ）反射 型の遅延装置では，可動ミラー以外のファイバ端や光学素子表面の反射も戻り光と なるため，得たい信号光以外のノイズ光が発生するという問題が知られていたこと （摘記事項（２−ウ）），を総合的に考慮すれば，引用発明に，上記周知技術を適 用し，参照光の光路に設ける可変遅延装置を，非反射性の遅延装置すなわち非反射 性の参照体とすること，すなわち，上記相違点における本願発明のようにすること は，当業者であれば，何ら困難性はなく，容易に想到し得る事項であるといえる。 そして，本願明細書に記載された本願発明によってもたらされる効果は，引用例 に記載の事項および周知技術から，当業者であれば予測することができる程度のも のであり，格別顕著なものとはいえない。 第３ 原告主張の審決取消事由 １ 取消事由１（容易想到性判断の誤り） (1) 周知例１について ア 本願発明の「非反射性参照体」は，スペクトル分離ユニットと共に使用 される点で，スペクトル分離ユニットと共に使用される旨の記載及び示唆がない周 知例１の「透過型ディレイライン（透過型の光学素子）」とは顕著に相違する。 すなわち，周知例１では，反射型の高速ディレイラインによって発生するノイズ を低減する技術のみが記載されており，「スペクトル分離ユニット」によってショ ット雑音を低減する技術が記載されておらず，示唆もされていない。反射型の高速 ディレイラインによって発生するノイズは，特定の周波数に偏在するノイズである。 一方，本願発明の「スペクトル分離ユニット」によって低減されるノイズは，レベ ル的には微小であるが，全ての周波数に存在するノイズであるショット雑音である。 よって，本願発明と甲２発明とは，低減される対象となるノイズの種類が異なる。 本願明細書（甲５）の段落【０００６】ないし【００１０】の記載が，その根拠で ある。 また，本願発明は，「非反射性参照体」と「スペクトル分離ユニット」とを同時 に使用するので，反射性参照体から生ずる特定周波数のノイズを無くし，さらに， 全ての周波数に存在するノイズであるショット雑音を低減することができるもので あるが，「非反射性参照体」と「スペクトル分離ユニット」とを同時に使用する装 置および技術思想は，引用例，周知例１〜３及び被告が本訴で追加提出した乙１（特 開平１０−２６７６３１号公報）に開示も示唆もされていない。 周知例１では，「透過型ディレイライン（透過型の光学素子）」によって反射性 参照体から生ずる特定周波数のノイズを無くすことはできるが，「スペクトル分離 ユニット」がないので，全ての周波数に存在するノイズであるショット雑音を低減 することができない。 よって，周知例１の「透過型ディレイライン（透過型の光学素子）」は，本願発 明の「非反射性参照体」ほどにはノイズ全般の低減に対して寄与することができず， 本願発明の「非反射性参照体」とは，技術意義及び構成上，全く相違する。 イ 引用発明の効果に関する記載（段落【００３５】，【００３９】，【０ ０７８】，【００８０】，【００９４】，【０１００】）は，引用発明がショット 雑音を低減する効果があることを主張している。 しかし，引用例には，参考側光路に設けた反射型の光学素子がノイズ光を発生さ せる旨の記載がなく，反射型の光学素子がノイズ光を発生させる旨を示唆する記載 もない。 また，引用発明では，バンドパスフィルタ４５によってショット雑音を低減する ことができたとしても，バンドパスフィルタ４５の周波数特性を反射型の光学素子 が反射する戻り光から発生するノイズ光の周波数特性に適合させることが設計製造 技術として極めて困難であるとともに，バンドパスフィルタ４５の周波数特性を反 射型の光学素子が反射する戻り光から発生するノイズ光の周波数特性に適合させた 場合は該バンドパスフィルタ４５におけるショット雑音の低減効果が大幅に減少す ることになり，信号対雑音比（ＳＮ比）を向上させることが困難となる。 よって，引用発明では，「参考側光路に設けた反射型の光学素子が反射する戻り 光から発生するノイズ光により劣化するＳＮ比を向上させる」という課題が存在し ないことは明らかである。このことは，引用発明において，周知例１の周知技術を 適用して，その「参照光反射鏡１４および遅延素子１５からなる可変遅延装置」を 「透過型ディレイライン」に置換することの阻害要因になる。 したがって，引用発明において，周知例１の周知技術を適用して，その「参照光 反射鏡１４および遅延素子１５からなる可変遅延装置」 「透過型ディレイライン」 を に置換する動機付けはなく，阻害要因もある。 ウ 周知例１の公開日は平成１３年９月２６日であり，本願発明の優先日は 平成１４年４月３０日である。したがって，スペクトラムを周波数成分に分離する 技術が開示されていない１つの公開特許出願公報である周知例１によって「非反射 型のデイレイライン」が開示されただけで，光学的画像形成のための装置であって 第１及び第２電磁波放射の組み合わせのスペクトラムを周波数成分に分離する技術 分野において，前記「非反射型のデイレイライン」が短時間に周知になる，と断定 することは，他に周知であることを具体的に示す特段の証拠がない限り，誤りであ る。 被告が主張するように，医療関連技術は通常の技術よりも早く当業者間において 共通化されるとは，考えられない。医師などは，病状の治癒および予防について研 究するが，ＯＣＴなどの医療装置について研究開発する者は少ない。特に，ＯＣＴ などの高額医療装置は，家電製品などと比較して当業者が少数であり，開発費も高 額になることから，技術ノウハウの秘匿化が図られ，他の技術よりも早く当業者間 において共通化される要因が少ないと考えるのが相当である。 さらに，周知例１では，反射型の高速ディレイラインの代わりに透過型のディレ イラインを用いる技術について特許化を図っているので，係る技術について出願公 開前に周知例１の出願人側が周知化を図ることはなく，出願公開後もなるべく秘匿 化を図ると考えるのが相当である。 よって，審決において，周知例１の内容に基づいて「非反射参照体が周知技術で ある」と認定したことは誤りである。 エ 周知例１の特許請求の範囲の請求項１，及び明細書の段落【００１０】， 【００１１】の記載には，「反射型の高速デイレイラインでは，可動ミラー以外の ファイバ端や光学素子表面の反射も戻り光となるため，得たい信号光以外のノイズ 光が発生し，ＳＮ比を劣化させる原因となる。」ので，そこでは，前記反射型の高 速デイレイラインの代わりに透過型のデイレイラインを用いることを主要構成とし ていることが示されている。 上記の記載は，周知例１の発明者が「非反射参照体」は周知技術ではないと認識 していたことを示している。すなわち，周知例１の発明者は，反射型の高速デイレ イラインによって生じるノイズは解決することが困難な問題であるとともに，反射 型の高速デイレイラインを非反射型の伝搬時間変化手段に置換することは当業者で あっても容易に考え出せないと認識していたので，透過性光学素子を有する伝搬時 間変化手段を備える発明を完成させて特許出願するに至ったと考えるのが自然であ る。 よって，周知例１に開示された内容に基づいて，非反射参照体が本願発明の構成 要素として周知技術であると認定することは誤りである。 オ 周知例１の内容が周知ではないということは，引用発明において，周知 例１記載の発明を適用することについて，動機付けがないことを示すとともに，阻 害要因となる。 (2) 周知例２について ア 周知例２の記載（２頁右上欄２〜１８行，右下欄５〜７行，３頁左下欄 の下２〜下１行）によれば，周知例２発明の技術分野は，「光ファイバ中の障害点 探索を行う装置」である。 一方，本願発明の技術分野は，請求項１に記載されているように，「画像形成の ための装置」である。 また，本願発明は「スペクトラム分離ユニット」を使用してノイズをさらに低減 しているが，周知例２発明は「光ファイバ中の障害点探索を行う装置」であるので， 「スペクトラム分離ユニット」を使用してノイズを低減することで得られる効果は 少ない。 周知例２発明の技術分野が本願発明の技術分野と顕著に異なるので，同発明の技 術は本願発明についての当業者にとって周知技術ではない。 イ 周知例２では，「反射性参照体」からはノイズ光が発生して，「非反射 性参照体」からはノイズ光が発生しない旨の記載がなく，示唆もない。 したがって，審決における相違点の判断は，光学要素としても「参照体」を「反 射性」のものから「非反射性」のものに置換することが容易か否かを問題にしてい るので，周知例２の記載では，「反射性」のものから「非反射性」のものに置換す る動機づけがなく，審決における周知技術認定の根拠にならない。また，周知例２ の技術は，ＯＣＴ全体と比較して，機能・構成上，顕著に相違し，ＯＣＴ全体にお けるＳＮ比を向上させるという技術課題がない。 したがって，周知例２に関する被告の主張は，あたらない。 (3) 周知例３について 周知例３の記載（１３頁８行〜１１行（翻訳文２２頁６行〜１０行），１５頁１ １行〜１３行（翻訳文２４頁下２行〜２５頁４行），参考図５（翻訳文の図６）， １５頁１１行〜１７行（翻訳文２４頁下２行〜２５頁９行） １６頁３行〜６行 ， （翻 訳文２５頁下５行〜下３行），参考図６（翻訳文の図７））によれば，周知例３に おいて，実施形態＃１では反射型の基準遅延素子１１８を有する反射性基準アーム 遅延を使用しており，実施形態＃２では透過遅延線１３２を使用しているが，実施 形態＃１と実施形態＃２とはＳＮ比の利点が同一であること，言い換えればノイズ 低減効果が全くないことを示している。すなわち，周知例３では，ノイズを低減す るための手段としての透過遅延線１３２を開示しておらず，「反射性遅延素子」を 「透過性遅延線」に置換してもＳＮ比が向上しないことが積極的に記載されている。 一方，本願明細書の段落【０００６】，【００３２】などの記載によれば，本願 発明では，非反射性参照体及びスペクトル分離ユニットを使用することで，ノイズ を大幅に低減することができる。 よって，周知例３の記載は，ノイズ低減を図る本願発明についての当業者にとっ て周知技術ではないばかりでなく，引用発明に周知例１〜３の技術を適用すること を阻害している。 (4) 乙１について 被告が本訴で提出した乙１の段落【００７８】の記載は，「反射型参照光変調機 構」を「透過性（非反射性）参照光変調機構」に置換しても光学測定装置全体の機 能が変わらないことを積極的に示している。 さらに，乙１では，「反射型参照光変調機構」を「透過性（非反射性）参照光変 調機構」に置換することでコスト低減あるいは構造の簡単化等の効果が生ずる旨の 記載はない。 乙１において，図１０に示された第２実施形態の参照光変調機構７１と，図１２ に示された第４実施形態の参照光変調機構７１”とを比較しても，第４実施形態の 参照光変調機構７１”（透過性（非反射性）参照光変調機構）の方が，構造が簡単 化してコストが低減するようになる機能を有する構成がない。 したがって，乙１には，「反射型参照光変調機構」を「透過性（非反射性）参照 光変調機構」に置換する動機付けがなく，雑音低減効果が第４実施形態の参照光変 調機構７１”（透過性（非反射性）参照光変調機構）の方がよい旨の記載もないの で，該置換についての阻害要因もある。 よって，乙１に関する被告の主張は，あたらない。 (5) 小括 上記のとおり，周知例１〜３の記載には，そこに記載の各発明を引用発明に適用 することを阻害する事由が明確に示されているので，引用発明に周知例１〜３記載 の技術を適用し，参照光の光路に設ける可変遅延装置を非反射性の遅延装置とする ことは，本願発明に関する当業者であっても，容易に想到し得る事項であるとはい えない。 ２ 取消事由２（顕著な効果の看過） 引用発明及び周知例１〜３記載の技術と本願発明との間には，以下のとおり顕著 な効果の相違がある。 すなわち，本願発明は，本願明細書（甲５）の段落【０００６】，【００３２】 に記載されているとおり，「スペクトル分離ユニット」によってスペクトラムを周 波数成分に分離するので，ＳＮ比を大きくすることが可能である。 ここで，「スペクトル分離ユニット」によってショット雑音の影響を低減するこ とはできるが，反射性参照体から生じる雑音の影響は，「スペクトル分離ユニット」 で低減することは難しい。すなわち，本願明細書の段落【０００９】に記載されて いるとおり，「スペクトル分離ユニット」によって，検出器当たりの光帯域幅を狭 めることが可能であり，その結果，各周波数におけるショット雑音の影響は，低減 できる一方で，信号成分は，同じままである。 前記信号成分には，ホワイト雑音スペクトラムを有さない「反射性参照体から生 じる雑音」が含まれ得る。 本願発明は，サンプルからの第１電磁気放射に干渉する第２電磁気放射を，「非 反射性参照体」を使用して生成しているので，「反射性参照体から生じる雑音」を 無くすことができ，さらに，「スペクトル分離ユニット」によってショット雑音の 影響を低減できるので，ＳＮ比を極めて大きくすることが可能である。本願発明の 効果は，「スペクトル分離ユニット」単体の効果と，「非反射性参照体」単体の効 果との総和を超える効果である。 一方，引用発明では，「反射性参照体」を使用しているので，前記反射性参照体 から生じる雑音の影響を低減することが困難である。したがって，引用発明では， 本願発明ほどＳＮ比を大きくすることができないのみならず，ショット雑音の影響 が低減するほど，反射性参照体から生じる雑音の影響が大きくなり，本願発明と比 較して総合的な雑音低減の効果が小さい。 周知例１〜３記載の技術では，「反射性参照体」からの雑音の影響がない，と仮 定した場合でも，「スペクトル分離ユニット」を使用していないので，ショット雑 音の影響を低減できず，本願発明と比較して雑音低減の効果が小さい。 したがって，引用発明及び周知例１〜３記載の技術は，本願発明と比較して，総 合的な雑音低減の効果が極めて低い。 以上の説明によれば，本願発明は，引用発明及び周知例１〜３の記載と比較して， 構成が相違し，効果も顕著に相違することが明確である。 よって，本願発明は，引用発明及び周知例１〜３記載の技術に基づいて，当業者 が容易に発明をすることができたものではない。 第４ 被告の反論 １ 取消事由１（容易想到性判断の誤り）に対して (1) 周知例１について 周知例１の，従来技術に関する記載（段落【０００２】，【０００３】，【００ ０４】），目的及び課題解決手段に関する記載（段落【００１０】，【００１１】， 【００１２】）からみて，周知例１には，従来，参照側光路に設けたリファレンス ミラーあるいは反射型の高速デイレイライン，すなわち，反射型の光学素子を，反 射する戻り光から発生するノイズ光をなくしてＳＮ比を向上させるために，非反射 性である透過型ディレイライン（透過型の光学素子）に置換することが記載されて いるといえ，該「透過型ディレイライン（透過型の光学素子）」は，参照側光路上 の光学素子である本願発明の「非反射性参照体」に相当することは明らかである。 そうすると，周知例１に記載されたものは「低干渉性光を用いたＯＣＴ」であっ て，「スペクトル分離ユニット」を備えたものではないものの，両者は，「ＯＣＴ」 として同一の技術分野に属するものであり，周知例１の「透過型ディレイライン（透 過型の光学素子）」と本願発明の「非反射性参照体」については，干渉系（計）の 基準光（参照光）の光路長を変化させる伝搬時間変化手段であることにおいて，技 術意義および構成上，差異がない。 そして，引用発明においても，「参考側光路に設けた反射型の光学素子が反射す る戻り光から発生するノイズ光により劣化するＳＮ比を向上させる」という課題が 存在することは明らかであり，引用発明において，周知例１の周知技術を適用して， その「参照光反射鏡１４および遅延素子１５からなる可変遅延装置」を「透過型デ ィレイライン」に置換する動機付けは十分あり，阻害要因もないことは明らかであ る。 周知例１が公開されたのは本件優先日の約半年前であるが，医療関連技術である ことからみて，通常の技術よりも早く当業者間において共通化されたと考えるのが 相当であるから，審決が，周知例１の内容に基づいて「非反射参照体が周知技術で ある」と認定したことに誤りはなく，原告の主張には理由がない。 仮に，原告が主張するように，周知例１の内容が周知ではないとしても，周知例 １は本件優先日前に頒布された刊行物であるから，本願発明は，引用発明と周知例 １記載の発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたといえるから，審 決の結論に誤りはない。 したがって，原告の主張は，審決の結論に影響を与えるものではないから，失当 である。 (2) 周知例２について 周知例２は，「ＯＣＴ」に関するものではないが，「ＯＣＴ」とは近接した「光 干渉」を利用した測定技術分野に属するものであって，使用する光学要素は「ＯＣ Ｔ」のそれと大部分が共通している。 すなわち，光学要素の観点からみれば，参照光の経路上に備えられる「参照体」 は，両分野において何ら，機能・構成上，相違するものではなく，技術課題も共通 している。このことは，周知例２の第２〜４図に各種の「反射性参照体」と「非反 射性参照体」が併記されていることから明らかである。 審決における相違点の判断は，光学要素としての「参照体」を「反射性」のもの から「非反射性」のものに置換することが容易か否かを問題にしているのであるか ら，周知例２が「ＯＣＴ」に関するものではないということをもって，審決の周知 技術認定の根拠にならないとすることは，技術常識に反する。 したがって，原告の主張には理由がない。 (3) 周知例３について 周知例３訳文の段落【００３５】〜【００３７】の記載によれば，周知例３には， 「反射性遅延素子」と「透過性（非反射性）遅延線」とは，当業者ならば，一般的 な課題であるコスト等を考慮して，適宜選択できるように記載されていることは明 らかであり，該「基準遅延素子」は，「ＯＬＣＲ（光学低コヒーレンス反射率計測） ／ＯＣＴ（光コヒーレンス断層撮影法）」において，参照光経路上に設けられ，参 照光の伝送時間を変化させ，その位相を遅延させるものであり，本願発明の「非反 射性参照体」に相当することは明らかである。 「反射性遅延素子」を「透過性遅延線」に置換することによりＳＮ比が向上しな いとしても，当業者ならば，コスト低減の効果を考慮して選択することは通常の技 術的行為であって，ＳＮ比が同等であったとしても，該置換を阻害するものとはい えない。 (4) 追加周知例 「ＯＣＴ」において，「反射型参照光変調機構」と「透過型参照光変調機構」と が併記され，当業者ならば，適宜選択できるように記載されている周知例として， 特開平１０−２６７６３１号公報（乙１）を追加する。 乙１の段落【００６７】，【００６８】，【００７４】，【００７５】，【００ ７６】，【００７７】，【００７８】，【００７９】の記載からみて，乙１には， 「反射性参照光変調機構（図１０）」と「透過性（非反射性）参照光変調機構（図 １２）」とは，当業者ならば，一般的な課題であるコスト等を考慮して，適宜選択 できるように記載されている。該「透過性（非反射性）参照光変調機構（図１２）」 は，「ＯＣＴ」において，参照光経路上に設けられ，参照光の伝送時間を変化させ， その位相を遅延させるものであり，本願発明の「非反射性参照体」に相当する。 また，乙１には，「反射性参照光変調機構」を「透過性（非反射性）参照光変調 機構」に置換することについて，効果の差異は記載されていないものの，「反射性 参照光変調機構」を「透過性（非反射性）参照光変調機構」に置換することは，当 業者ならば，一般的な課題であるコスト低減あるいは構造の簡単化等の効果を考慮 して適宜選択する通常の技術的行為であり，引用発明において該置換を阻害するも のではない。 (5) 小括 以上のとおり，引用発明において，周知例１〜３及び乙１で示される周知技術を 適用して，その「参照光反射鏡１４および遅延素子１５からなる可変遅延装置」を 「非反射性の遅延装置すなわち非反射性の参照体」に置換する動機付けは十分あり， 阻害要因もないことは明らかであり，相違点について，審決の認定・判断に誤りは ない。 したがって，原告が主張する取消事由１は理由がない。 ２ 取消事由２（顕著な効果の看過）に対して 本願明細書の「雑音低減の効果」についての記載（段落【０００６】，【０００ ９】，【００３１】，【０１０１】，【０１０２】，【０１０６】）は，「時間ド メインＯＣＴ」を「スペクトルドメインＯＣＴ」とした，すなわち，「スペクトル 分離ユニット」を備えたことにより，ＳＮ比改善を達成したことを示している。「非 反射型参照体」を採用したことによる効果は全く記載されていない。 「非反射性参照体」については，本願明細書の段落【００３６】に「・・・・・ また，参照アームは，反射の無い透過性であってもよい。」と記載されているのみ であって，図１６〜２１に記載されたデータも，「非反射性参照体」と「反射性参 照体」との効果上の差異を示すものではない。 一方，周知例１には，従来，参照側光路に設けたリファレンスミラーあるいは反 射型の高速デイレイライン，すなわち，反射型の光学素子を，ＳＮ比を向上させる ために，非反射性である透過型ディレイライン（透過型の光学素子）に置換するこ とが記載されているのであり，非反射性である透過型ディレイライン（透過型の光 学素子）に置換することにより，ＳＮ比が向上することが記載されているが，他方 において周知例３のように「透過性（非反射性）遅延線」を用いてもＳＮ比に変わ りが無い場合もあることが，本件優先日前において周知の技術事項であったことが うかがわれる。そして，この「参照側光路に設けた反射型の光学素子が反射する戻 り光から発生するノイズ光により劣化するＳＮ比を向上されるという」効果は，た とえ生じたとしても「スペクトル分解ユニット」の有無に関係なく，全く独立して 生じるものである。 そうすると，本願発明の効果は，「スペクトル分解ユニット」に相当する「波長 分散手段」を備える引用発明が奏する「雑音低減」の効果と，たとえあったとして も，「非反射性参照体」による「雑音低減」の効果との総和以上のものとはいえな い。 したがって，審決における，「本願明細書に記載された本願発明によってもたら される効果は，引用例に記載の事項および周知技術から，当業者であれば予測する ことができる程度のものであり，格別顕著なものとはいえない。」との認定・判断 には誤りがなく，原告が主張する取消事由２は理由がない。 第５ 当裁判所の判断 １ 取消事由１（容易想到性判断の誤り）について (1) 周知技術について ア 周知例１（甲２）には，審決が認定した摘記事項の記載があり，その前 提として， 「【０００２】 【従来の技術】近年，生体組織を診断する場合，組織内部の光学的情報を得ることのできる装置と して，低干渉性光を用いて被検体に対する断層像を得る干渉型のＯＣＴ（オプティカル・コヒーレ ンス・トモグラフィ）が例えば特表平６−５１１３１２号に開示されている。」 との記載がある。 上記記載によれば，周知例１には，ＯＣＴにおいて「反射型のディレイライン」 を用いた従来例では「低干渉出力」「ＳＮ比の劣化」があったところを「透過型の ディレイライン」を用いることによりこれを解消したことが記載されていることが 理解できる。 イ 周知例２（甲３）には，審決認定の摘記事項のほか，以下の記載がある。 「第１図において，まず，被測定光ファイバ中のある１点（Ａ点とする）からの反射光信号と参 照光信号が干渉するように，・・・光遅延回路９を調整し，次に，同様に被測定光ファイバ中の他 の１点（Ｂ点とする）からの反射光信号と参照光信号が干渉するように光遅延回路９を再調整する と，第６図に示したようなビート電気信号の振幅と遅延時間との関係が得られる。このとき，Ａ点 およびＢ点を測定したときの光遅延回路の遅延時間をτＡおよびτＢとしたとし，その差をΔＴ（＝ τＢ−τＡ）とすると，Ａ点とＢ点の距離は，Ｖ・ΔＴ／２より求めることができる。ここでＶは被 測定光ファイバ内での光速である。」（４頁左上欄１９行〜右上欄１２行） 「第１図は本発明の一実施例を示す。・・・９は探査光が光源１から出射してから，被測定光フ ァイバ５で反射あるいは散乱を受け，光検出器７により受光されるまでの遅延時間と，参照光が光 源１から出射してから，光検出器７により受光されるまでの遅延との差を零またはそれに近い値に 調整可能な光遅延回路である。光遅延回路９は，第２図〜第４図に示すように各種の方法で実現で きる。すなわち，第２図においてはプリズム１０を，第３図においてはハーフミラ−１１と対向す るミラー１２を，また第４図においては光ファイバ１３，レンズ１４およびレンズ１５，光ファイ バ１６からなる平行ビーム系におけるコリメート用レンズ１５と光ファイバ１６を，それぞれ各図 における破線の位置（Ｚ＝０）から実線の位置（Ｚ＝Ｚ０）まで動かし，光路長を変化させることに より実現できる。」（３頁左下欄１２行〜４頁左上欄４行） 上記記載によれば，周知例２には，被測定物の特性を測定する反射試験装置にお いて，干渉光と参照光との間の遅延を調節することによってＡ点とＢ点との距離を 計測することが可能である旨とともに，このような遅延を実現するための「光遅延 回路」の構成としてミラーを用いた例（図３）の他にプリズムを用いた例（図２） やレンズを用いた例（図４）が開示され，これらにより「光路長を変化させる」旨 が記載されている。このことから，周知例２には，光学的に距離を測定するにあた って，信号光と干渉光の位相を可変させるための構成として，反射型のものと非反 射型のものが選択可能なものである旨が示されていることが理解できる。 ウ 周知例３の訳文には，審決認定の摘記事項が記載されているところ，こ の記載によれば，周知例３には，ＯＣＴにおいてＳＮ比改善のためにスプリッタを 用いず「光サーキュレータ」を用いるにあたって，基準遅延素子及び基準アーム（参 照アーム）につき図６の実施形態では「反射性基準アーム遅延」を用いたのに対し 図７の実施形態では「伝達遅延素子」を用いる旨が記載されていることが理解でき る。 エ 乙１（特開平１０−２６７６３１号公報）によれば，ＯＣＴにおいて， 被告主張のとおり，「反射性参照光変調機構（図１０）」と「透過性（非反射性） 参照光変調機構（図１２）」とが，当業者にとって，一般的な課題であるコスト等 を考慮して，適宜選択できることが認められる。 (2) 引用発明への周知技術の適用について ＯＣＴ等を含む光学測定分野において，信号光と干渉させるべく位相が変化し得 る参照光を得る手段として「非反射性の遅延装置」は周知技術であること，また「非 反射性の遅延装置」と「反射性の遅延装置」のいずれを採用するかが選択事項であ ることは，(1)でみた周知例１〜３及び乙１の記載から明らかである。 引用例には，光断層像計測装置の従来技術として図４及び図５に関連する二つの 例が記載されており，前者の図４は，信号光と干渉させるべく位相が変化し得る参 照光を得る手段として，光路上を移動して参照光を反射する「可変遅延装置」 【０ （ ００５】，【００１５】）であり，後者の図５は，「可変遅延装置」に代わる，「遅 延素子１５」を裏面に配設する「反射鏡１４」（【００２３】）を含む光断層像計 測装置である。審決は，後者の図５についての光断層像計測装置をもって引用発明 として認定したものである。 そして，これらの記載が「反射鏡１４」を限定列挙する趣旨とは解されず，引用 発明の参照光を得る手段を上記の周知技術を用いて実現することを阻害する記載も 見当たらない。そうすると，引用発明における，信号光が反射される部位からセン サーまでの距離に応じた様々な位相の参照光を得る手段として，図５の「遅延素子 １５」が裏面に配設された「反射鏡１４」を用いた構成に換えて，周知技術である 非反射性の遅延装置を採用して参照光となる第２電磁気放射を非反射性参照体から のものとすることは，機能的に等価な周知技術の選択であって，当業者が容易に為 し得たことである。 したがって，これと同旨の審決の容易想到性判断に誤りはない。 原告は，周知例１〜３は，本願発明の「スペクトル分離ユニット」に相当する構 成について開示，示唆がないから，これらを周知例として引用発明に適用する動機 付けがないと主張するが，「スペクトル分離ユニット」に相当する構成については， 本願発明と引用発明とにおいて一致する構成であるから（審決の認定であり，原告 もこの認定を争っていない。），周知例として示された文献に「スペクトル分離ユ ニット」に相当する構成が開示されているか否かは，容易想到性判断には影響がな い。 ２ 取消事由２（顕著な効果の看過）について 原告は，本願発明は，サンプルからの第１電磁気放射に干渉する第２電磁気放射 を，「非反射性参照体」を使用して生成しているので，「反射性参照体から生じる 雑音」を無くすことができ，さらに，「スペクトル分離ユニット」によってショッ ト雑音の影響を低減できるので，両者単体の効果の総和を超える効果によりＳＮ比 を極めて大きくすることが可能であるのに対し，甲２〜甲４は，「反射性参照体」 からの雑音の影響がないと仮定した場合でも，「スペクトル分離ユニット」を使用 していないのでショット雑音の影響が低減できず，総合的な雑音低減の効果が極め て低い等と主張している。 しかし，光路上の参照光を得るための構成に係るノイズやノイズ低減の効果は， 光路上の干渉光の検出のための構成に係るノイズやノイズ低減の効果と無関係に生 ずるのであり，本願明細書の図１６〜図２１に示された実験結果も，本願発明によ ってショット雑音の低減が図れる旨は示されているということができるものの，こ れに止まり，光路上の参照光を得るための構成に係るノイズやノイズ低減の効果が 光路上の干渉光の検出のための構成に係るノイズやノイズ低減の効果と関係がある ことを立証するに足るものということはできない。 よって，本願発明の効果が，「スペクトル分離ユニット」に相当する構成を有す る引用発明において「非反射性の参照体」に相当する構成を有する周知技術を適用 した場合の効果の総和を上回るものであるとは認められない。 第６ 結論 以上によれば，原告主張の取消事由はいずれも理由がない。よって，原告の請求 を棄却することとし，主文のとおり判決する。 知的財産高等裁判所第２部 裁判長裁判官 塩 月 秀 平 裁判官 池 下 朗 裁判官 古 谷 健 二 郎 |